Diffuse x-ray scattering from misfit dislocations in SiGe epitaxial layers with graded Ge content

被引:0
作者
机构
来源
J Appl Phys | / 8卷 / 5013期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
学科分类号
摘要
引用
收藏
相关论文
empty
未找到相关数据