Field ion microscopy observation of intrinsic stacking faults in iridium

被引:0
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作者
Song, S.G. [1 ]
Chen, C.L. [1 ]
Tsong, T.T. [1 ]
机构
[1] Los Alamos Natl Lab, Los Alamos, United States
来源
Materials Science and Engineering A | 1996年 / A212卷 / 01期
关键词
D O I
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