Defects in TiN films probed by monoenergetic positron beams

被引：0

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作者：

机构：

[1] Uedono, Akira

[2] Nanao, Susumu

[3] Tanigawa, Shoichiro

[4] Suzuki, Ryoichi

[5] Ohdaira, Toshiyuki

[6] Mikado, Tomohisa

[7] Ishibashi, Shoji

来源：

Uedono, Akira | 1600年 / JJAP, Minato-ku, Japan卷 / 34期

关键词：

29;

D O I：

暂无

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