Extraction of Trap Densities at Front and Back Interfaces in Thin-Film Transistors

被引：0

作者：

机构：

[1] Kimura, Mutsumi

[2] Tam, Simon W.-B.

[3] Inoue, Satoshi

[4] Shimoda, Tatsuya

来源：

Kimura, M. (mutsu@rins.ryukoku.ac.jp) | 1600年 / Japan Society of Applied Physics卷 / 43期

关键词：

D O I：

暂无

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