Statistical model for the inherent tilt of flip-chips

被引：0
作者：
Goldmann, Lewis S. [1 ]
机构：
[1] IBM Microelectronics Div, Hopewell Junction, United States
来源：
| 1996年 / ASME, New York, NY, United States卷 / 118期
关键词：
D O I：
暂无
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摘要：
20
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