Two-dimensional imaging of cleaved Si p-n junctions with 30-nm resolution using a UHV scanning tunneling microscope

被引：0

作者：

Kordic, S. ^{[1
]}

van Loenen, E.J. ^{[1
]}

Walker, Andrew J. ^{[1
]}

机构：

[1] Philips Res Lab, Eindhoven, Netherlands

来源：

Electron device letters | 1991年 / 12卷 / 08期

关键词：

7;

D O I：

暂无

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学科分类号：

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