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Surface and subsurface imaging of indium in InGaAs by scanning tunneling microscopy
被引：0
作者：
Zurich Research Lab, Ruschlikon, Switzerland
[1
]
机构：
来源：
Appl Surf Sci
|
/
516-521期
关键词：
Number:;
21/34317.92;
Acronym:;
-;
Sponsor:;
D O I：
暂无
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