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Clustering process of point defects in GaP studied by transmission electron microscopy
被引：0
作者：
Ohno, Y.
[1
]
Takeda, S.
[1
]
Hirata, M.
[1
]
机构：
[1] Osaka Univ, Osaka, Japan
关键词：
Semiconducting gallium compounds;
D O I：
10.4028/www.scientific.net/msf.196-201.1279
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
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页码：1279 / 1284
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