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Optical characterization and strain effects in CdS thin epitaxial films grown by hot wall epitaxy
被引：0
作者：
Becker, U.
Giessen, H.
Gruen, M.
Klingshirn, C.
机构：
来源：
Vide, les Couches Minces
|
1991年
/
259 Supp期
关键词：
D O I：
暂无
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