Thermal nitridation of Si(111) surfaces with N2 molecules studied by X-ray photoelectron spectroscopy

被引:0
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作者
机构
[1] Tabe, Michiharu
来源
Tabe, Michiharu | 1600年 / JJAP, Minato-ku, Japan卷 / 34期
关键词
Semiconducting silicon;
D O I
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