Transmission electron microscopic study of intersecting stacking faults in ZnSe/GaAs(001) epilayers and (SiGe)/Si(001) multilayers

被引：0

作者：

Fung, K.K. ^{[1
]}

Wang, N. ^{[1
]}

机构：

[1] Department of Physics, Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Clear Water Bay, Kowloon, Hong Kong

来源：

Diffusion and Defect Data. Pt A Defect and Diffusion Forum | 2000年 / 183卷

关键词：

D O I：

10.4028/www.scientific.net/ddf.183-185.215

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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