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Nonlinear auto-companding method for behavioral modeling of switched-current circuits
被引:0
作者
:
Wang, Wei
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
ASIC and Syst. Lab., Microelectron. Dept., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
ASIC and Syst. Lab., Microelectron. Dept., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
Wang, Wei
[
1
]
Zeng, Xuan
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机构:
ASIC and Syst. Lab., Microelectron. Dept., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
ASIC and Syst. Lab., Microelectron. Dept., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
Zeng, Xuan
[
1
]
Tao, Jun
论文数:
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ASIC and Syst. Lab., Microelectron. Dept., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
ASIC and Syst. Lab., Microelectron. Dept., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
Tao, Jun
[
1
]
Su, Yangfeng
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机构:
Dept. of Math., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
ASIC and Syst. Lab., Microelectron. Dept., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
Su, Yangfeng
[
2
]
Tang, Pushan
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ASIC and Syst. Lab., Microelectron. Dept., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
ASIC and Syst. Lab., Microelectron. Dept., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
Tang, Pushan
[
1
]
机构
:
[1]
ASIC and Syst. Lab., Microelectron. Dept., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
[2]
Dept. of Math., Fudan Univ., Shanghai 200433, China
来源
:
Pan Tao Ti Hsueh Pao/Chinese Journal of Semiconductors
|
2002年
/ 23卷
/ 12期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
Switching circuits
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页码:1254 / 1261
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