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Observation of macrodefects in silicon by the methods of X-ray topography
被引：0
作者：
Mil'vidskij, M.G.
Osip'yan, Yu.A.
Smirnova, I.A.
Suvorov, E.V.
Shulakov, E.V.
机构：
来源：
Poverkhnost Rentgenovskie Sinkhronnye i Nejtronnye Issledovaniya
|
2001年
/
06期
关键词：
D O I：
暂无
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