Stress development kinetics in plasma-enhanced chemical-vapor-deposited silicon nitride films

被引:0
|
作者
Hughey, Michael P. [1 ]
Cook, Robert F. [1 ]
机构
[1] Department of Chemical Engineering and Materials Science, University of Minnesota, Minneapolis, MN 55455, United States
来源
Journal of Applied Physics | 2005年 / 97卷 / 11期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
学科分类号
摘要
37
引用
收藏
相关论文
共 50 条