Single-beam diode-laser technique for optical path-length measurements

被引：0

作者：

Carlisle, Clinton B. ^{[1
]}

Warren, Russell E. ^{[1
]}

Riris, Haris ^{[1
]}

机构：

[1] Optical Sensing Program, SRI International, 333 Ravenswood Avenue, Menlo Park, CA 94025, United States

来源：

Applied Optics | 1996年 / 35卷 / 22期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：4349 / 4354