Ballistic electron emission microscopy of InAs grown on GaAs(100)

被引：0

作者：

Ke, Mao-long ^{[1
]}

Westwood, D.I. ^{[1
]}

Matthai, C.C. ^{[1
]}

Williams, R.H. ^{[1
]}

机构：

[1] Univ of Wales Cardiff, Cardiff, United Kingdom

来源：

Surface Science | 1996年 / 352-354卷

关键词：

D O I：

暂无

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