Microwave transistor noise model extraction methods and a non-contacting scattering parameter measurement method

被引：0

作者：

Stenarson, J. ^{[1
]}

机构：

[1] Microwave Electronics Laboratory, Department of Microelectronics, Chalmers University of Technology, 412 96 Göteborg, Sweden

来源：

Doktorsavhandlingar vid Chalmers Tekniska Hogskola | 2001年 / 1773期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1 / 48