首页
学术期刊
论文检测
AIGC检测
热点
更多
数据
CHARACTERISTICS OF HIGH TEMPERATURE ANNEALING ON MODULATION DOPED GaAs/AlxGa1 - xAs HETEROSTRUCTURES.
被引:0
作者
:
Xin, Shangheng
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Shanghai Jiaotong Univ, China, Shanghai Jiaotong Univ, China
Shanghai Jiaotong Univ, China, Shanghai Jiaotong Univ, China
Xin, Shangheng
[
1
]
机构
:
[1]
Shanghai Jiaotong Univ, China, Shanghai Jiaotong Univ, China
来源
:
Pan Tao Ti Hsueh Pao/Chinese Journal of Semiconductors
|
1986年
/ 7卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
SEMICONDUCTOR DEVICES
引用
收藏
页码:509 / 515
相关论文
未找到相关数据
未找到相关数据