Evaluation of the characteristics of a slow-scan CCD camera for a transmission electron microscope

被引：0

作者：

Taniyama, Akira ^{[1
]}

Oikawa, Tetsuo ^{[2
]}

Shindo, Daisuke ^{[1
]}

机构：

[1] Institute for Advanced Materials Processing, Tohoku University, Katahira 2-1-1, Aoba-ku, Miyagi, Sendai,980-8577, Japan

[2] JEOL Ltd, 1-2 Musashino 3 chome, Akishima, Tokyo,196-0021, Japan

来源：

Microscopy | 1999年 / 48卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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