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MEASUREMENT OF THE MINORITY-CARRIER LIFETIME USING AN MOS CAPACITOR.
被引:0
作者
:
Wei, Ching-Yeu
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机构:
GE, Schenectady, NY, USA, GE, Schenectady, NY, USA
GE, Schenectady, NY, USA, GE, Schenectady, NY, USA
Wei, Ching-Yeu
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1
]
Woodbury, H.Hugh
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机构:
GE, Schenectady, NY, USA, GE, Schenectady, NY, USA
GE, Schenectady, NY, USA, GE, Schenectady, NY, USA
Woodbury, H.Hugh
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机构
:
[1]
GE, Schenectady, NY, USA, GE, Schenectady, NY, USA
来源
:
IEEE Transactions on Electron Devices
|
1985年
/ ED-32卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
SEMICONDUCTOR DEVICES, MOS
引用
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页码:957 / 964
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