MEASUREMENT OF THE MINORITY-CARRIER LIFETIME USING AN MOS CAPACITOR.

被引：0

作者：

Wei, Ching-Yeu ^{[1
]}

Woodbury, H.Hugh ^{[1
]}

机构：

[1] GE, Schenectady, NY, USA, GE, Schenectady, NY, USA

来源：

IEEE Transactions on Electron Devices | 1985年 / ED-32卷 / 05期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

SEMICONDUCTOR DEVICES, MOS

引用

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