MEASUREMENT OF THE MINORITY-CARRIER LIFETIME USING AN MOS CAPACITOR.

被引:0
作者
Wei, Ching-Yeu [1 ]
Woodbury, H.Hugh [1 ]
机构
[1] GE, Schenectady, NY, USA, GE, Schenectady, NY, USA
来源
IEEE Transactions on Electron Devices | 1985年 / ED-32卷 / 05期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
学科分类号
摘要
SEMICONDUCTOR DEVICES, MOS
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页码:957 / 964
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