Characterization of (100) CdTe epilayers grown on (100) GaAs by MOCVD

被引：0

作者：

Peng, Ruiwu ^{[1
]}

Ding, Yongqing ^{[1
]}

Wang, Geya ^{[1
]}

Peng, Chen ^{[1
]}

机构：

[1] Shanghai Inst of Metallurgy, Shanghai, China

来源：

Rare Metals | 1990年 / 9卷 / 03期

关键词：

13;

D O I：

暂无

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页码：177 / 183

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