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Characterization of β-silicon carbide by silicon-29 solid-state NMR, transmission electron microscopy, and powder X-ray diffraction
被引：0
作者：
机构：
[1] Carduner, Keith R.
[2] Shinozaki, Sam S.
[3] Rokosz, Michael J.
[4] Peters, Charles R.
[5] Whalen, Thomas J.
来源：
Carduner, Keith R.
|
1600年
/
73期
关键词：
Silicon Carbide;
D O I：
暂无
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学科分类号：
摘要：
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