Low frequency noise measurements of p-channel Si1-xGex MOSFET's

被引：0

作者：

Department of Physics, University of Warwick, Coventry CV4 7AL, United Kingdom ^{[1
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机构：

来源：

IEEE Trans. Electron Devices | / 7卷 / 1484-1486期

关键词：

Number:; -; Acronym:; EPSRC; Sponsor: Engineering and Physical Sciences Research Council;

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