Effect of silicon film thickness on performance of SOI gate controlled hybrid transistor

被引：0

作者：

Huang, Ru ^{[1
]}

Wang, Yangyuan ^{[1
]}

机构：

[1] Peking Univ, Beijing, China

来源：

Pan Tao Ti Hsueh Pao/Chinese Journal of Semiconductors | 1999年 / 20卷 / 08期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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