Strongly code disjoint built-in current sensor for strongly fault-secure static CMOS realizations

被引：0

作者：

Univ of Rhode Island, Kingston, United States ^{[1
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机构：

来源：

IEEE Trans Comput Aided Des Integr Circuits Syst | / 11卷 / 1402-1407期

关键词：

Error detection - Integrated circuit layout - Integrated circuit testing - Reliability;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用