X-RAY INTERFEROMETER BASED ON SMALL-ANGLE SCATTERING APPARATUS.

被引：0

作者：

Sotnikova, T.D.

Smirnov, L.A.

机构：

来源：

| 1978年 / 21卷 / 5 pt 2期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TB51 [声学仪器]; TH74 [光学仪器];

学科分类号：

0803 ; 0804 ;

摘要：

An X-ray small-angle interferometer intended for the measurement of the thickness of thin films from 50 A upward is described. The instrument can be based on the apparatus used to study small-angle scattering of X-rays.

引用

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