Local auger effects at point defects in silicon

被引：0

作者：

Grimmeiss, H.G. ^{[1
]}

Kleverman, M. ^{[1
]}

机构：

[1] Univ of Lund, Sweden

来源：

Journal of Physics and Chemistry of Solids | 1988年 / 49卷 / 06期

关键词：

Charge States - Local Auger Effects - Point Defects;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

(Edited Abstract)

引用

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