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XPS and AES studies of ITO thin films
被引：0
作者：
机构：
来源：
Cailiao Yanjiu Xuebao/Chinese Journal of Materials Research
|
2000年
/
14卷
/
02期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
Semiconducting films
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页码：173 / 178
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