REPRODUCIBILITY OF ELECTROMIGRATION MEASUREMENTS.

被引:0
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作者
Schafft, Harry A. [1 ]
Staton, Tammy C. [1 ]
Mandel, John [1 ]
Shott, John D. [1 ]
机构
[1] NBS, Gaithersburg, MD, USA, NBS, Gaithersburg, MD, USA
来源
| 1600年 / ED-34期
关键词
CURRENT-DENSITY STRESS - ELECTROMIGRATION MEASUREMENTS REPRODUCIBILITY - MEDIAN-TIME-TO-FAILURE MEASUREMENTS - TEST EQUIVALENT SAMPLES;
D O I
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