10. 6 MICRON WAVELENGTH INTERFEROMETRY AND THE MEASUREMENT OF INFRARED TRANSMITTING MATERIALS INDEX OF REFRACTION HOMOGENEITY.

被引：0

作者：

Synborski, Charles E.

Hanes, Mary J.

机构：

来源：

Proceedings of the Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers | 1980年 / 255卷

关键词：

INFRARED TRANSMITTING MATERIALS - REFRACTION HOMOGENEITY;

D O I：

暂无

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