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APPLICATION OF SHEARING INTERFEROMETRY TO THE MEASUREMENT OF SLOPE AND CURVATURE COMPONENTS OF PLANE REFLECTING MODELS - 1. GRATING SYSTEMS.
被引：0
|作者：
Assa, A.
Betser, A.A.
Politch, J.
机构：
来源：
TAE Report (Technion Israel Institute of Technology, Department of Aeronautical Engineering)
|
1975年
/
242期
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
INTERFEROMETERS
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