未找到相关数据
LSI Test Taken into Account Already at the Design Stage of the Integrated Circuit.
被引：0
作者：
Painke, Helmut
机构：
来源：
Elektronik Munchen
|
1980年
/
29卷
/
26期
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
INTEGRATED CIRCUIT TESTING
引用
收藏
页码：69 / 74
相关论文