Defect depth determination by thermal-wave imaging

被引：0

作者：

Favro, L.D. ^{[1
]}

机构：

[1] Department of Physics, Institute for Manufacturing Research, Wayne State University, Detroit, MI 48202, United States

来源：

Progress in Natural Science | 1996年 / 6卷 / SPEC. ISS.期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用