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Analysis of Stochastic Process Control Measuring Devices.
被引：0
作者：
Richter, W.
机构：
来源：
|
1973年
/
16卷
/
10期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
Measuring devices that operate stochastically using random quantities offers some advantages in the control of time varying processes by recording automatically the measuring errors in technologic mmicroprocesses.
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页码：396 / 399
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