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Antistatic technique for suppressing charging in focused ion beam systems using microprobing and ion-beam-assisted deposition
被引:0
作者
:
机构
:
[1]
Komoda, Hirotaka
[2]
Nakatani, Ikuko
[3]
Watanabe, Heiji
[4]
Yasutake, Kiyoshi
来源
:
Komoda, H. (hkomoda@nts.ricoh.co.jp)
|
1600年
/ Japan Society of Applied Physics卷
/ 44期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
引用
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