NEW TECHNIQUE FOR CHARACTERIZATION OF THE 'END' RESISTANCE IN MODULATION-DOPED FET's.

被引：0

作者：

Lee, Kwyro ^{[1
]}

Shur, Michael S. ^{[1
]}

Valois, Anthony J. ^{[1
]}

Robinson, Gary Y. ^{[1
]}

Zhu, Xichen C. ^{[1
]}

van der Ziel, Aldert ^{[1
]}

机构：

[1] Univ of Minnesota, Dep of Electrical, Engineering, Minneapolis, MN, USA, Univ of Minnesota, Dep of Electrical Engineering, Minneapolis, MN, USA

来源：

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

TRANSISTORS, FIELD EFFECT

引用

页码：1394 / 1398