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Creation and evaluation of compact models for thermal characterization using dedicated optimization software
被引：0
作者：
Philips Research Lab, Eindhoven, Netherlands
[1
]
机构：
来源：
Annu IEEE Semicond Therm Meas Manage Symp
|
/
189-200期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
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