Leakage current modeling of series-connected thin film transistors

被引：0

作者：

Princeton Univ, Princeton, United States ^{[1
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机构：

来源：

IEEE Trans Electron Devices | / 8卷 / 1561-1563期

关键词：

Number:; USAF-TPSU-CCT-1464-966; Acronym:; DARF; Sponsor: Dementia Australia Research Foundation; -;

D O I：

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引用