Application of the Reflectivity of X-Rays to Study Surfaces.

被引:0
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作者
Bosio, L
Cortes, R.
Defrain, A.
Gomas da Costa, P.
机构
来源
Vide, les Couches Minces | 1983年 / 38卷 / 216期
关键词
Compendex;
D O I
暂无
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学科分类号
摘要
SURFACES
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页码:197 / 198
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