High accuracy profile measurement of a machined surface by the combined method

被引：73

作者：

Gao, Wei ^{[1
]}

Kiyono, Satoshi ^{[1
]}

机构：

[1] Tohoku Univ, Sendai, Japan

来源：

Measurement: Journal of the International Measurement Confederation | 1996年 / 19卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/S0263-2241(96)00066-8

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：55 / 64