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Measurement of Low-Level Noise Power in the Microwave Region by Frequency Shift Keying.
被引：0
作者：
Noell, Karl L.
机构：
来源：
AEU-Archiv fur Elektronik und Ubertragungstechnik
|
1973年
/
27卷
/
10期
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
ELECTRIC MEASUREMENTS
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页码：443 / 446
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