Optical field analysis of the Ge0.6Si0.4/Si strained-layer superlattice photodetector

被引:0
作者
Li, Guozheng
Liu, Shuping
Zhang, Hao
机构
来源
Hsi-An Chiao Tung Ta Hsueh/Journal of Xi'an Jiaotong University | 1997年 / 31卷 / 08期
关键词
D O I
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