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Computer Analysis of Transient Processes in Gate Circuits Using Electron-Bombarded Semiconductor Target Devices.
被引：0
作者：
D'yakonov, V.P.
Zienko, S.I.
Samoilova, T.A.
机构：
来源：
Izvestia vyssih ucebnyh zavedenij. Priborostroenie
|
1980年
/
23卷
/
03期
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
SEMICONDUCTOR DEVICES
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