Atomic-scale fluctuation of the terrace width on vicinal (001) GaAs surfaces

被引：0

作者：

Ohkouchi, Shunsuke ^{[1
]}

Tanaka, Ichiro ^{[1
]}

机构：

[1] Optoelectronics Technology Research, Lab, Tsukuba, Japan

来源：

Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers | 1991年 / 30卷 / 10 B期

关键词：

Microscopic Examination - Molecular Beam Epitaxy;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1826 / 1829