首页
学术期刊
论文检测
AIGC检测
热点
更多
数据
INVESTIGATION OF INTERFACE STRUCTURE OF GA FACET GROWN IN THE SI-DOPED GAAS CRYSTALS.
被引:0
作者
:
JIANG SINAN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
JIANG SINAN
机构
:
来源
:
|
1982年
/ V 3卷
/ N 4期
关键词
:
CRYSTAL LATTICE - GALLIUM FACET GROWN REGION - INTERFACE STRUCTURE - NORMAL CRYSTAL REGION;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
引用
收藏
页码:277 / 281
相关论文
未找到相关数据
未找到相关数据