Eddy current detection of crack orientation using elliptical excitation

被引：0

作者：

Theodoulidis, T.P. ^{[1
]}

Panas, S.M. ^{[1
]}

Kriezis, E.E. ^{[1
]}

机构：

[1] Aristotle Univ of Thessaloniki, Thessaloniki, Greece

来源：

IEE Proceedings, Part A: Science, Measurement and Technology | 1994年 / 141卷 / 01期

关键词：

Crack orientation - Current source - Eddy current detection - Elliptical excitation - Fast Fourier transform algorithm - Inverse transformation - Thin plate system - Time varying electromagnetic field;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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