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X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS OF SUPERCONDUCTING FILMS OF THE Nb-Ge SYSTEM.
被引：0
作者：
Golovashkin, A.I.
Martovitskiy, V.P.
Pechen', Ye.V.
Rodin, V.V.
机构：
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
SUPERCONDUCTING MATERIALS
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页码：63 / 68
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