Electronic speckle pattern shearing interferometry (ESPSI) and its applications

被引：0

作者：

Steinchen, Wolfgang ^{[1
]}

Yang, L.X. ^{[1
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Schuth, M. ^{[1
]}

Kupfer, G. ^{[1
]}

机构：

[1] Univ. Gh-Kassel, Kassel, Ger

来源：

关键词：

Interferometric fringes - Speckle pattern shearing interferometry - Strain analysis;

D O I：

暂无

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学科分类号：

摘要：

引用

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