Electronic speckle pattern shearing interferometry (ESPSI) and its applications

被引:0
作者
Steinchen, Wolfgang [1 ]
Yang, L.X. [1 ]
Schuth, M. [1 ]
Kupfer, G. [1 ]
机构
[1] Univ. Gh-Kassel, Kassel, Ger
关键词
Interferometric fringes - Speckle pattern shearing interferometry - Strain analysis;
D O I
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