未找到相关数据
Stable and metastable defect distributions in undoped and doped a-Si:H obtained from analysis of the constant photocurrent method
被引：0
作者：
Forschungszentrum Juelich, Juelich, Germany
[1
]
机构：
来源：
Journal of Non-Crystalline Solids
|
1996年
/
198-200卷
/
pt 1期
关键词：
Number:;
-;
Acronym:;
BMBF;
Sponsor: Bundesministerium für Bildung und Frauen;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
页码：351 / 354
相关论文