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Equilibrium critical thickness for strained-layer growth
被引：0
作者：
Khor, K.E.
Das Sarma, S.
机构：
来源：
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics Processing and Phenomena
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1998年
/
16卷
/
04期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
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